13.0
Datos técnicos
Tabla 1 corrientes de prueba:
I∆N
Medición UB/RE
10
4
30
12
100
40
300
120
500
200
1000
400
Tabla 2 corrientes de rampa
I∆N
10
4-14
30
12-42
100
40-140
300
120-420
500
200-700
1000
400-1400
Tabla 3 Tiempo de disparo diferenciale con diferentes corrientes de prueba
Tipo de
Tipo de
Factor de Corriente de
diferencial corriente corriente prueba
I∆N
I∆N
I∆N
X0,5
0,5x
x1
1x
10 mA/
x2
2x
30 mA/
x5
5x
100 mA/
rampa
0,4 x 1,4 x
300 mA/
x0,5
0,35 x
500 mA/
x1
1,4x
1000 mA
x2
2,8x
x5
7x
rampa
0,1 x 2 x
x0,5
0,5 x
x1
2 x
x2
4 x
x5
10 x
rampa
0,1 x 2 x
x0,5
x1
=
5
3,5 5
10
14
20
15
10,5 15
30
42
60
50
35
50
100 141 200
150 105 150
300 424 600
250 175 250
500 707 1000
500
1000
1-20
1-20
3-60
3-60
10-200
10-200
30-600
30-600
50-1000
50-1000
Tiempo de
disparo
prescrito
-
< 300 ms
<150 ms
< 40 ms
< 300 ms
-
< 300 ms
<150 ms
< 40 ms
< 300 ms
-
< 300 ms
<150 ms
< 40 ms
< 300 ms
Datos técnicos
x2
x5
20
28
40
50
70
60
84
120
150 212 300
200 283 400
500 707 1000
600 849 1200
1500
1000
2000
Tiempo de
Norma
prueba
DIN VDE
IEC61008-1
2000 ms, I∆N>100 mA, 500 ms
500 ms
IEC61008-1
150 ms
IEC61008-1
40 ms
IEC61008-1
300 ms
IEC61008-1
IEC61008-1
2000 ms, I∆N> 100 mA: 500 ms
500 m
IEC61008-1
150 ms
IEC61008-1
40 ms
IEC61008-1
300 ms
IEC61008-1
0664 P 100
2000 ms, I∆N> 100 mA: 500 ms
500 ms
0664 P 100
150 ms
0664 P 100
40 ms
0664 P 100
300 ms
0664 P 100
100
Analizador
Fi/RCD
√
√
√
√
√
√
√
√
√
√
√
√
√
√
√
101